Сканирующий электронный микроскоп Tescan VEGA II XMU с системой рентгеновского волнодисперсионного микроанализа INCA WAVE 700 и энергодисперсионного микроанализа INCA ENERGY 450 с ADD детектором предназначен для проведения исследования структуры, поверхностей разрушения и точного химического микроанализа металлических и неметаллических (нетокопроводящих) материалов.
<p><center><img src='/netcat_files/343_9.jpg'></center>
<p><input type='button' value=' назад ' onclick='history.back(-1)'>