Все новости за $date год
Все новости за $date год
Об институте
Основные направления научной деятельности и структура института
Дирекция
Ученый совет
Научные сотрудники
Службы института
Устав института и нормативные документы
Система менеджмента качества
Конкурс на замещение вакантных должностей
Контактная информация и реквизиты
Национальный проект "Наука и университеты"
Испытательный центр
ИЦ в системе «Наносертифика»
Лаборатория объемного и поверхностного деформирования
Лаборатория неразрушающего контроля
Лаборатория микромеханики материалов
Лаборатория технической диагностики
Лаборатория конструкционного материаловедения
Лаборатория деформирования и разрушения
Лаборатория системного моделирования
Лаборатория прикладной механики
Лаборатория механики деформаций
Сектор нелинейной вихревой гидродинамики
Сектор новых материалов и технологий
Сектор информационных технологий
Отдел механики транспортных машин
Молодежная лаборатория технологии материалов
Общая информация
Специальности
Состав совета
Объявления и авторефераты
Контактная информация
Специальности до 2015 года (архив)
Состав совета до 2015 года (архив)
Защита диссертаций до 2015 года (архив)
Общие сведения
Номенклатура научных специальностей по аспирантуре
Для поступающих в аспирантуру
Для аспирантов
Список аспирантов
Нормативная база
Монографии
Диссертации
Поиск по авторам
Поиск по публикациям
Публикации $date
Публикации $date
Публикации 2002 и ранее
Поиск разработок
Разработки
Поиск патентов и программ
Патенты Института
Зарегистрированные программы Института
Зарегистрированные в $date году
Зарегистрированные в $date году
Зарегистрированные в 2014 году и ранее
Поиск конференций
Планируемые и проведенные в Институте
Участие наших сотрудников в конференциях $date года
Участие наших сотрудников в конференциях $date года
Участие наших сотрудников в конференциях 2014 года и ранее
Доклады наших сотрудников (архив)
Полезные ссылки
Конкурс имени В.Л. Колмогорова
Конкурс имени Г.Л. Химича и В.М. Макарова
Объявления
Полезные ссылки
О библиотеке
Поиск поступлений
Монографии наших сотрудников
Система электронных библиотек (ИМаш)
Научные журналы (содержания номеров)
Другие библиотеки и издательства
Научные фонды
Архив $date года
Новости
О нас
Школы, семинары и конференции
Полезные ссылки
Новости
Дисконтная карта члена профсоюза
Общая информация
Документы
Полезные ссылки
Нормативные, правовые и иные акты в сфере противодействия коррупции
Методические материалы
Формы документов, связанных с противодействием коррупции, для заполнения
Сведения о доходах, расходах, об имуществе и обязательствах имущественного характера
 
 ЦКП «Пластометрия» / ИЦ в системе «Наносертифика»  Версия для печати   Карта сайта     Language По-русски По-английски
 
О центре
Область аккредитации
Оборудование
Контакты


Оборудование

  • Сканирующий электронный микроскоп Tescan VEGA II XMU с волновой приставкой INCA WAVE 500 для исследования структуры и поверхностей разрушения материалов и определения точного локального химического состава (от бора);

  • Система рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy 450 XT с безазотным детектором ADD производства Oxford Instruments (Великобритания) предназначена для поэлементного определения химического состава металлических и неметаллических материалов при металлографических и фрактографических исследованиях на сканирующем электронном микроскопе TESCAN VEGA II XMU;

  • Система для измерения микротвердости с программным обеспечением WIN-HCU FISCHERSCOPE HM 2000 XYm предназначен для измерения твердости по Мартенсу под тестовой нагрузкой в соответстии со стандартом ISO 14577;

  • Атомно-силовой микроскоп NT-206 для исследования геометрии поверхности и механических свойств материалов на субмикро- и наномасштабных уровнях (около нанометра);

  • Сканирующий зондовый микроскоп NANOSCAN для измерение топографии поверхности, определение твердости (индентирование, склерометрия) и распределение механических свойств;

  • Анализатор спектра R3265 А предназначен для прецизионного определения частоты, амплитуды и добротности гармоник сигнала электромагнитно-акустического преобразования, сигналов акустической эмиссии и сигналов магнитоакустической эмиссии;

  • Вибрационный магнитометр NUVO Mk2 является прецизионной автоматизированной установкой для высокоточных измерений магнитных характеристик различных веществ, в том числе и жидкостей;

  • Трехмерно отображающий анализатор поверхности Wyko NT-1100 - оптический интерферометрический профилометр предназначен для измерения шероховатости поверхностей различных материалов;

  • Машина для испытания материалов на трение и износ 2070 СМТ-1 УХЛ 4.2 предназначена для трения и сравнительных испытаний на износ;

  • Установка для бесконтактного измерения деформации StrainMaster фирмы LaVision (Германия) предназначена для измерения деформации образцов на испытательном комплексе для исследования магнитных характеристик материалов в процессе деформирования растяжением (сжатием) и кручением;

  • Вибрационный магнитометр NUVO Mk2 является прецизионной автоматизированной установкой для высокоточных измерений магнитных характеристик различных веществ, в том числе и жидкостей;

  • Трехмерно отображающий анализатор поверхности Wyko NT-1100 - оптический интерферометрический профилометр предназначен для измерения шероховатости поверхностей различных материалов;

  • Машина для испытания материалов на трение и износ 2070 СМТ-1 УХЛ 4.2 предназначена для трения и сравнительных испытаний на износ;

  • Установка для бесконтактного измерения деформации StrainMaster фирмы LaVision (Германия) предназначена для измерения деформации образцов на испытательном комплексе для исследования магнитных характеристик материалов в процессе деформирования растяжением (сжатием) и кручением;

  • Тепловизионная инфракрасная камера NEC TH-9100 WL для термовизионного мониторинга материалов и конструкций;

  • Магнитоскоп MAGNETOSKOP 1.069 фирмы FOERSTER (Германия), предназначенный для измерений напряженности магнитных полей и магнитной восприимчивости с помощью феррозондовых датчиков;

  • Цифровой анализатор шумов Баркгаузена MICROSCAN 600 фирмы STRESSTECH GROUP для оценки остаточных (внутренних) напряжений в ферромагнитных материалах;

  • Установка для бесконтактного измерения деформации StrainMaster фирмы LaVision (Германия) предназначена для измерения деформации образцов на испытательном комплексе для исследования магнитных характеристик материалов в процессе деформирования растяжением (сжатием) и кручением;

  • Тепловизионная инфракрасная камера NEC TH-9100 WL для термовизионного мониторинга материалов и конструкций.

Дизайн и программирование
N-Studio беременность, мода, красота, здоровье, диеты, женский журнал, здоровье детей, здоровье ребенка, красота и здоровье, жизнь и здоровье, секреты красоты, воспитание ребенка православное искусство, христианская живопись, христианские стихи, книги скачать, христианская литература, плохие мысли рождение ребенка,пол ребенка,воспитание ребенка,ребенок дошкольного возраста, дети дошкольного возраста,грудной ребенок,обучение ребенка,родить ребенка,загадки для детей,здоровье ребенка,зачатие ребенка,второй ребенок,определение пола ребенка,будущий ребенок
© 2008-2024
Институт машиноведения 0,223